高分辨场发射扫描电镜SEM
仪器编号
JG-YQ020
规格
Zeiss Sigma360
生产厂家
卡尔蔡司
型号
Zeiss Sigma360
制造国家
德国
分类号
放置地点
郭可信材料表征中心 B108
出厂日期
2024-11-07
购置日期
2024-03-01
入网日期
2025-04-07
主要规格及技术指标

1、二次电子分辨率: 0.9 nm @15 kV,1.3 nm @1 kV ;
2、背散射电子分辨率:1.2 nm @1 kV;
3、加速电压:20 V-30 kV

主要功能及特色

Sigma 360 高分辨场发射扫描电子显微镜采用Gemini光学系统设计,分辨率达到0.9nm。独特的镜筒设计可以帮助用户方便、安全的测试纳米磁性材料,环形Inlens探测器结合电子束加速器,有效提高低电压下图像的分辨率和信噪比。整体铸造的大尺寸腔室结构,可以满足不同领域的分析需求。

主要附件及配置

1、EDAX能谱仪及EBSD系统:①EDS探测器为SiN4新型SDD探测器窗口,有效活区面积≥70mm²;分析元素范围Be4-Am95;能量分辨率(Mn-Kα)优于127eV,低能端分辨率优异,Al Lα-Al Kα峰比率1:1;0-200kcps范围内分辨率稳定性>90%
2、Femto-Tools原位纳米压痕:①可进行室温-800℃的拉伸、压缩、弯曲、疲劳、蠕变、应力松弛、动态机械测试(DMA)、连续刚度法纳米压痕、快速纳米压痕成像等测试;②可用于原位压缩、疲劳、动态力学分析、纳米压痕、快速CSM、原位高温力学等测试.

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